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考研数电·零基础讲义 第05讲(下)|CMOS 反相器:结构、特性与参数

约 18 分钟 6145 字 华南师范大学数字电子技术考研数电零基础讲义

考研数电·零基础讲义 · 第 05 讲(下)|CMOS 反相器:结构、特性与参数 学完这一讲,你能画出 CMOS 反相器、说清输入高/低时哪只管子导通,读懂电压传输特性和噪声容限,会用公式算 CMOS 电路的动态功耗。预计用时 100 分钟。

本讲地图

  • 结构:一只 P 沟道 MOS 管(在上,接电源)+ 一只 N 沟道 MOS 管(在下,接地),栅极连在一起当输入,漏极连在一起当输出。
  • 工作原理:输入低 → PMOS 通、NMOS 断 → 输出高;输入高 → 反过来 → 输出低。两管"轮流导通"。
  • 特性曲线:电压传输特性(AB、BC、CD 三段,阈值VTH≈VDD/2V_{TH}\approx V_{DD}/2⁠)、电流传输特性(只有转折区有电流)。
  • 参数:噪声容限VNHV_{NH}⁠、VNLV_{NL}⁠;输入/输出特性;传输延迟tPHLt_{PHL}⁠、tPLHt_{PLH}⁠;功耗PD=(CL+CPD)fVDD2P_D=(C_L+C_{PD})fV_{DD}^2⁠;扇出。
  • 华师怎么考:考纲"CMOS 门电路的工作原理"。最核心的是"给输入,判断每只管子通/断,得出输出",以及知道各参数的含义;数值计算以噪声容限、功耗这类代公式的题为主。
  • 教材对应:第 3 章 3.3.2~3.3.4 节(3.3.1 MOS 管开关特性已在第 05 讲上讲过)。

前置知识

  • MOS 管当开关:"N 高通,P 低通",RONR_{ON}小、ROFFR_{OFF}极大:见第 05 讲(上)。
  • 互补开关电路的思想:见第 05 讲(上)第二节。
  • 非逻辑Y=A‾Y=\overline{A}⁠:见第 02 讲(上)。

一、CMOS 反相器的结构

1.1 大白话

还记得第 05 讲(上)的"互补开关电路"吗?上面一个开关通电源、下面一个开关通地,两个开关永远一个合、一个断。CMOS 反相器就是把这两个开关换成两只 MOS 管:

  • 上面那个开关用 PMOS(栅极低电平才导通);
  • 下面那个开关用 NMOS(栅极高电平才导通)。

它俩的栅极接在同一个输入上。同一个输入电压,对 PMOS 是"关"的信号,对 NMOS 就正好是"开"的信号——天生互补,像跷跷板的两头。

CMOS 是 Complementary MOS 的缩写,"Complementary"就是"互补"。

1.2 电路

CMOS 反相器两管轮流导通CMOS 反相器等效开关电路VDDT1PMOST2NMOSvIvOVDDvOT1 导通T2 截止vI = 0(低)vO ≈ VDD(高)RON(小)断开输出接到 VDD总有一个管子截止 → 静态电流≈0T2 导通T1 截止vI = VDD(高)vO ≈ 0(低)断开RON(小)输出接到地总有一个管子截止 → 静态电流≈0

图 1:左边是 CMOS 反相器,右边是对应的等效开关电路;输入在 0 和 VDD 之间切换,绿色表示导通的管子(动画循环播放)

逐行拆解(每个引脚接哪儿):

元件 源极 S 接 漏极 D 接 栅极 G 接
T1T_1(P 沟道增强型,PMOS) 电源VDDV_{DD} 输出vOv_O 输入vIv_I
T2T_2(N 沟道增强型,NMOS) 地 输出vOv_O 输入vIv_I
  • VDDV_{DD}⁠:MOS 电路的电源电压,读"V-D-D"。74HC 系列常用 5 V(允许 2~6 V)。
  • VGS(th)NV_{GS(th)N}⁠:NMOS 的开启电压(正值,比如 +1 V);VGS(th)PV_{GS(th)P}⁠:PMOS 的开启电压(负值,比如 −1 V)。
  • 设计要求VDD>VGS(th)N+∣VGS(th)P∣V_{DD}>V_{GS(th)N}+|V_{GS(th)P}|⁠,保证两只管子都能被充分打开。

有一个记图技巧:P 在上面挨着VDDV_{DD}(P 对 Plus,正电源),N 在下面挨着地。考试画图时千万别画反。


二、工作原理:两管轮流导通

关键是算出每只管子的栅源电压 vGSv_{GS}(栅极电位减源极电位),再和开启电压比较。

2.1 输入低电平:vI=0v_I=0

  • T2T_2(NMOS):源极接地,vGS2=vI−0=0<VGS(th)Nv_{GS2}=v_I-0=0<V_{GS(th)N} → 截止;
  • T1T_1(PMOS):源极接VDDV_{DD}⁠,vGS1=vI−VDD=−VDDv_{GS1}=v_I-V_{DD}=-V_{DD}⁠,比VGS(th)PV_{GS(th)P}还负,∣vGS1∣=VDD>∣VGS(th)P∣|v_{GS1}|=V_{DD}>|V_{GS(th)P}| → 导通,导通电阻很小(可小于 1 kΩ)。

输出端通过T1T_1的小电阻接到VDDV_{DD}⁠,通过T2T_2的极大电阻(⁠108∼109 Ω10^8\sim10^9\ \Omega⁠)接到地,分压结果:vO=VOH≈VDDv_O=V_{OH}\approx V_{DD}⁠,输出高电平。

2.2 输入高电平:vI=VDDv_I=V_{DD}

  • T2T_2⁠:vGS2=VDD>VGS(th)Nv_{GS2}=V_{DD}>V_{GS(th)N} → 导通;
  • T1T_1⁠:vGS1=VDD−VDD=0v_{GS1}=V_{DD}-V_{DD}=0⁠,∣vGS1∣=0<∣VGS(th)P∣|v_{GS1}|=0<|V_{GS(th)P}| → 截止。

输出通过T2T_2接地:vO=VOL≈0v_O=V_{OL}\approx0⁠,输出低电平。

2.3 结论

vIv_I T1T_1(PMOS) T2T_2(NMOS) vOv_O 逻辑
0(低) 导通 截止 ≈VDD\approx V_{DD}(高) A=0→Y=1A=0\to Y=1
VDDV_{DD}(高) 截止 导通 ≈0\approx0(低) A=1→Y=0A=1\to Y=0

所以Y=A‾Y=\overline{A}⁠,这就是反相器(非门)。

最大的优点——静态功耗极小:不管输入是高还是低,总有一只管子截止,而截止电阻高达108∼109 Ω10^8\sim10^9\ \Omega⁠,从VDDV_{DD}到地几乎没有电流。这是 CMOS 取代 TTL 成为主流的根本原因。

例题 1:CMOS 反相器VDD=5 VV_{DD}=5\ \text{V}⁠,VGS(th)N=1 VV_{GS(th)N}=1\ \text{V}⁠,VGS(th)P=−1 VV_{GS(th)P}=-1\ \text{V}⁠。分别判断vI=0.5 Vv_I=0.5\ \text{V}⁠、2.5 V2.5\ \text{V}⁠、4.5 V4.5\ \text{V}时两管的通断。

解:

vIv_I vGS2=vIv_{GS2}=v_I T2T_2 vGS1=vI−5v_{GS1}=v_I-5 T1T_1
0.5 V 0.5 V < 1 V 截止 −4.5 V < −1 V 导通
2.5 V 2.5 V > 1 V 导通 −2.5 V < −1 V 导通
4.5 V 4.5 V > 1 V 导通 −0.5 V > −1 V 截止

注意 2.5 V 时两只管子同时导通!这时从电源到地有一条通路,会有不小的电流流过。这就引出了下面的"转折区"。

⚠️ 易错点:

  1. PMOS 的vGSv_{GS}要用"栅极 − 源极",源极接的是VDDV_{DD}而不是地,所以vGS1=vI−VDDv_{GS1}=v_I-V_{DD}⁠,是负数。
  2. "PMOS 导通"的判断是vGS1v_{GS1}比开启电压更负(绝对值更大),不要写成vGS1>VGS(th)Pv_{GS1}>V_{GS(th)P}⁠。

三、电压传输特性与电流传输特性

3.1 大白话

前面只看了输入"正好是 0"和"正好是VDDV_{DD}"两种情况。如果把输入电压从 0 慢慢调到VDDV_{DD}⁠,输出会怎样变化?把vOv_O随vIv_I变化画成曲线,就是电压传输特性。它像一个"翻跟头"的过程:输入在低处时输出稳稳是高,输入越过中间某个点时输出"啪"地翻到低。

3.2 曲线

CMOS 反相器的电压传输特性与电流传输特性001122334455vI / VvO / VVTH = VDD/2AB 段BC 段(转折区)CD 段T1通T2止两管都通T1止T2通── vO(电压传输特性)- - iD(电流传输特性,示意比例)VDD = 5 V,两管阈值 ±1 V对称、按平方律模型数值求解iD 只在 BC 段有,vI = VDD/2 时最大

图 2:按平方律模型数值计算出的电压传输特性(蓝实线)和电流传输特性(橙虚线),红点沿曲线扫描(动画循环播放)

设两只管子参数对称:VGS(th)N=∣VGS(th)P∣V_{GS(th)N}=|V_{GS(th)P}|⁠,导通电阻相同。曲线分三段:

AB 段(⁠vI<VGS(th)Nv_I<V_{GS(th)N}⁠):T2T_2截止、T1T_1导通,vO=VOH≈VDDv_O=V_{OH}\approx V_{DD}⁠。

CD 段(⁠vI>VDD−∣VGS(th)P∣v_I>V_{DD}-|V_{GS(th)P}|⁠):T1T_1截止、T2T_2导通,vO=VOL≈0v_O=V_{OL}\approx0⁠。

BC 段(⁠VGS(th)N<vI<VDD−∣VGS(th)P∣V_{GS(th)N}<v_I<V_{DD}-|V_{GS(th)P}|⁠):两管同时导通,输出由两管电阻分压决定,输出随输入急剧下降。参数对称时,vI=12VDDv_I=\frac12V_{DD}时两管电阻相等,vO=12VDDv_O=\frac12V_{DD}⁠,这就是转折区的中点。

阈值电压:转折区中点对应的输入电压叫阈值电压VTHV_{TH}(threshold,读"V-T-H"):

VTH≈12VDDV_{TH}\approx\frac12V_{DD}

它的含义:输入高于VTHV_{TH}就被当成高电平,低于VTHV_{TH}就被当成低电平,VTHV_{TH}是反相器"眼里"高低的分界线。

CMOS 反相器的转折区非常陡,阈值又正好在电源正中间,高、低两边的余量一样大——非常接近理想开关。

3.3 电流传输特性

把流过两管的漏极电流iDi_D随vIv_I的变化画出来(图 2 橙色虚线):

  • AB 段:T2T_2截止,iD≈0i_D\approx0⁠;
  • CD 段:T1T_1截止,iD≈0i_D\approx0⁠;
  • BC 段:两管同时导通,有电流,且在vI=12VDDv_I=\frac12V_{DD}附近最大。

实际意义:CMOS 电路不能长时间让输入停在转折区(比如输入悬空、输入信号变化太慢),否则一直有大电流,功耗大,甚至烧坏器件。

例题 2:VDD=10 VV_{DD}=10\ \text{V}的对称 CMOS 反相器,阈值电压约多少?输入 4 V 时输出更接近高还是低?

解:VTH≈12×10=5 VV_{TH}\approx\frac12\times10=5\ \text{V}⁠。输入 4 V 低于 5 V,被当作低电平,输出更接近高电平(⁠≈VDD\approx V_{DD}⁠)。(4 V 已经比较靠近阈值,实际输出会比 10 V 略低一些,但仍在高电平一侧。)

⚠️ 易错点:VTHV_{TH}(阈值电压,反相器整体的翻转点)和VGS(th)V_{GS(th)}(单只 MOS 管的开启电压)是两回事,符号很像,别混。


四、输入端噪声容限

4.1 大白话

前一个门的输出,是后一个门的输入。导线上会混进干扰(噪声),把电平"抖"一下。噪声容限就是:在不让后一级判断出错的前提下,允许混进去的噪声电压最大是多少——相当于"安全余量"。

4.2 定义

四个关键参数(都是手册给出的"保证值"):

符号 读法/含义
VOH(min)V_{OH(min)} 输出高电平的最小值:前级输出"高"时,保证不低于它
VOL(max)V_{OL(max)} 输出低电平的最大值:前级输出"低"时,保证不高于它
VIH(min)V_{IH(min)} 输入高电平的最小值:后级只要输入不低于它,就保证认作"高"
VIL(max)V_{IL(max)} 输入低电平的最大值:后级只要输入不高于它,就保证认作"低"
VNH=VOH(min)−VIH(min)V_{NH}=V_{OH(min)}-V_{IH(min)} VNL=VIL(max)−VOL(max)V_{NL}=V_{IL(max)}-V_{OL(max)}

逐行拆解:

  • VNHV_{NH}(高电平噪声容限):前级最差的"高"是VOH(min)V_{OH(min)}⁠,后级只要求到VIH(min)V_{IH(min)}⁠,两者之差就是向下的噪声最多能有多大;
  • VNLV_{NL}(低电平噪声容限):前级最差的"低"是VOL(max)V_{OL(max)}⁠,后级允许到VIL(max)V_{IL(max)}⁠,差值就是向上的噪声最多能有多大。

记忆口诀:"输出比输入更严"——输出端给的保证总比输入端要求的更"极端",中间的余量就是噪声容限。

74HC04 的输入端噪声容限电压/V01234前一级(驱动门)输出后一级(负载门)输入VOH(min) = 4.4VOL(max) = 0.33输出保证不会落在这一段认作高不确定认作低VIH(min) = 3.15VIL(max) = 1.35VNH = 1.25VNL = 1.0274HC04(VDD = 4.5 V):噪声在绿色范围内,后级仍能正确识别

图 3:74HC04 在 VDD = 4.5 V 下的噪声容限

4.3 例题

例题 3:74HC04(CMOS 六反相器)在VDD=4.5 VV_{DD}=4.5\ \text{V}下的参数为VOH(min)=4.4 VV_{OH(min)}=4.4\ \text{V}⁠,VOL(max)=0.33 VV_{OL(max)}=0.33\ \text{V}⁠,VIH(min)=3.15 VV_{IH(min)}=3.15\ \text{V}⁠,VIL(max)=1.35 VV_{IL(max)}=1.35\ \text{V}(教材表 3.3.2)。求两个噪声容限。

解:

VNH=4.4−3.15=1.25 VV_{NH}=4.4-3.15=1.25\ \text{V} VNL=1.35−0.33=1.02 VV_{NL}=1.35-0.33=1.02\ \text{V}

意思是:前级输出高电平时,叠加 1.25 V 以内的负向干扰,后级仍可靠认作高;输出低电平时,叠加 1.02 V 以内的正向干扰,后级仍可靠认作低。

例题 3′:74AHC04 在VDD=4.5 VV_{DD}=4.5\ \text{V}下VOH(min)=4.4 VV_{OH(min)}=4.4\ \text{V}⁠,VOL(max)=0.44 VV_{OL(max)}=0.44\ \text{V}⁠,VIH(min)=3.15 VV_{IH(min)}=3.15\ \text{V}⁠,VIL(max)=1.35 VV_{IL(max)}=1.35\ \text{V}⁠。它的噪声容限和 74HC04 比哪个更小?

解:VNH=4.4−3.15=1.25 VV_{NH}=4.4-3.15=1.25\ \text{V}(与 74HC04 相同);VNL=1.35−0.44=0.91 VV_{NL}=1.35-0.44=0.91\ \text{V}⁠,比 74HC04 的 1.02 V 小。原因是它的输出低电平最大值更高(0.44 V > 0.33 V)。整体抗干扰能力看两者中较小的那个,所以 74AHC04 的低电平一侧余量更紧。

经验结论:CMOS 电路的噪声容限大约是30%VDD30\%V_{DD}⁠,VDDV_{DD}越高,噪声容限越大。(例如VDD=15 VV_{DD}=15\ \text{V}时约 4.5 V。)

⚠️ 易错点:

  1. 公式里VNHV_{NH}是"输出减输入",VNLV_{NL}是"输入减输出",顺序相反——都要保证结果为正。
  2. 题目给的是"最小值/最大值",不要拿典型值(比如VOH≈VDDV_{OH}\approx V_{DD}⁠)去算。

五、静态输入特性和输出特性

5.1 输入特性:几乎不取电流,但怕静电

MOS 管栅极下面是一层极薄的二氧化硅绝缘层,耐压只有约 100 V,摸一下带静电的衣服就可能把它击穿。所以 CMOS 芯片的每个输入端都有输入保护电路:两只钳位二极管,一只接VDDV_{DD}⁠,一只接地,再串一个电阻。

  • 输入在0∼VDD0\sim V_{DD}正常范围内:保护二极管都不导通,输入端相当于一个很大的电阻(10 MΩ 以上)并一个约 5 pF 的小电容,输入电流≈0\approx0;
  • 输入超过VDD+0.7 VV_{DD}+0.7\ \text{V}或低于−0.7 V-0.7\ \text{V}⁠:对应的二极管导通,把栅极电压钳住,保护栅极。

由此得出一条使用规则:CMOS 的多余输入端不能悬空。悬空时输入电流几乎为 0,电位"飘"着,很容易被干扰感应到转折区,既可能逻辑出错,又会让两管同时导通、电流增大。多余的输入端应按逻辑要求接VDDV_{DD}或接地(或与有用输入并联)。

5.2 输出特性:带负载时电平会"让步"

  • 输出低电平时(⁠T2T_2导通):负载电流IOLI_{OL}从外面流进T2T_2⁠,在T2T_2的导通电阻上产生压降,所以 IOLI_{OL}越大,VOLV_{OL}越高;
  • 输出高电平时(⁠T1T_1导通):负载电流IOHI_{OH}从T1T_1流出去,∣IOH∣|I_{OH}|越大,VOHV_{OH}越低(⁠VOH=VDD−T1V_{OH}=V_{DD}-T_1上的压降)。

VDDV_{DD}越高,MOS 管∣vGS∣|v_{GS}|越大,导通电阻越小,输出电平受负载影响越小。所以查手册上的VOHV_{OH}⁠、VOLV_{OL}时一定要看是在多大负载电流下测的。74HC 系列的输出电流最大值∣IOH(max)∣=IOL(max)=4 mA|I_{OH(max)}|=I_{OL(max)}=4\ \text{mA}⁠。

5.3 CMOS 芯片的正确使用(了解)

教材 3.3.6 节专门讲了 CMOS 器件怎么用才不坏,考试偶尔以简答、判断形式出现,记住几条即可:

  1. 防静电:储存运输用导电泡沫或金属屏蔽包装;拿取时不要摸引脚;烙铁、仪器、工作台要良好接地;插拔芯片前先关电源。
  2. 多余输入端不悬空:与门、与非门的多余输入接VDDV_{DD}(接 1 不影响"与");或门、或非门的多余输入接地(接 0 不影响"或");也可以和有用的输入端并联。
  3. 限制输入电流:保护二极管只能过约 1 mA。输入端接低内阻信号源、接大电容或接长线时,要串一个保护电阻RPR_P限流(例如接长线时经验取RP=VDD/1 mAR_P=V_{DD}/1\ \text{mA}⁠)。
  4. 锁定效应(了解名称即可):CMOS 内部寄生的晶体管结构在过压、过流时可能"自锁"导通,形成很大电流把芯片烧坏。上面几条措施同时也是在预防它。

例题 6:一个 3 输入 CMOS 与非门只用了两个输入 A、B,第三个输入怎么处理?如果是 3 输入或非门呢?

解:与非门Y=ABC‾Y=\overline{ABC}⁠,要让 C 不影响结果,C 应恒为 1:接VDDV_{DD}(或与 A、B 之一并联),得Y=AB‾Y=\overline{AB}⁠。或非门Y=A+B+C‾Y=\overline{A+B+C}⁠,C 应恒为 0:接地(或并联),得Y=A+B‾Y=\overline{A+B}⁠。无论哪种都不能悬空。


六、动态特性:延迟与功耗

6.1 传输延迟时间

大白话:输出端总挂着电容(下一级的输入电容、导线电容),电容像一个小水桶,要先灌满(充电)或放空(放电),输出电压才能变过去。所以输出总比输入慢一点。

  • tPHLt_{PHL}⁠:输出由高变低的延迟(P-H-L:Propagation, High to Low);
  • tPLHt_{PLH}⁠:输出由低变高的延迟;
  • 两者的平均叫平均传输延迟时间tpdt_{pd}⁠。

CMOS 反相器的tPHLt_{PHL}⁠、tPLHt_{PLH}基本相等。负载电容越大、MOS 管导通电阻越大,延迟越长;提高VDDV_{DD}能减小导通电阻、缩短延迟。数量级:74HC04 在VDD=5 VV_{DD}=5\ \text{V}⁠、CL=50 pFC_L=50\ \text{pF}时tpdt_{pd}约 9 ns。

交流噪声容限:如果干扰是很窄的尖脉冲(宽度和延迟时间差不多),电容来不及充放电,输出来不及翻转。所以对窄脉冲的噪声容限(交流噪声容限)比前面的直流噪声容限大,脉冲越窄越大。

6.2 功耗

CMOS 反相器的总功耗 = 静态功耗 + 动态功耗。

静态功耗PSP_S:输入不变时只有极小的漏电流(主要来自保护二极管和寄生二极管的反向电流),PS=IDDVDDP_S=I_{DD}V_{DD}⁠,通常小到可以忽略。

动态功耗PDP_D:输入每翻转一次就要"花钱",分两部分:

  1. 负载电容充放电功耗PCP_C:输出由低变高时VDDV_{DD}经T1T_1给CLC_L充电,由高变低时CLC_L经T2T_2放电,每个周期都要消耗能量:
PC=CLfVDD2P_C=C_LfV_{DD}^2
  1. 瞬时导通功耗PTP_T:输入翻转经过转折区的瞬间,两管同时导通,有一股"穿透电流":
PT=CPDfVDD2P_T=C_{PD}fV_{DD}^2

其中CPDC_{PD}叫功耗电容,是厂家给出的等效参数(不是真电容),74HC 系列约 20 pF。

合起来:

PD=PC+PT=(CL+CPD)fVDD2P_D=P_C+P_T=(C_L+C_{PD})fV_{DD}^2

逐行拆解:ff是输入信号的重复频率。三个影响因素——电容越大、频率越高、电源越高,功耗越大;而且和VDDV_{DD}的平方成正比,所以把电源从 5 V 降到 2.5 V,动态功耗变成原来的1/41/4⁠。这就是手机芯片拼命降电压的原因。

例题 4(教材例 3.3.1):CMOS 反相器VDD=5 VV_{DD}=5\ \text{V}⁠,静态电源电流IDD=1 μAI_{DD}=1\ \mu\text{A}⁠,负载电容CL=100 pFC_L=100\ \text{pF}⁠,功耗电容CPD=20 pFC_{PD}=20\ \text{pF}⁠,输入近似理想矩形波,f=100 kHzf=100\ \text{kHz}⁠。求总功耗。

解:

第 1 步,动态功耗:

PD=(100+20)×10−12×100×103×52 W=0.3 mWP_D=(100+20)\times10^{-12}\times100\times10^3\times5^2\ \text{W}=0.3\ \text{mW}

第 2 步,静态功耗:

PS=IDDVDD=10−6×5 W=0.005 mWP_S=I_{DD}V_{DD}=10^{-6}\times5\ \text{W}=0.005\ \text{mW}

第 3 步,总功耗:PTOT=0.3+0.005=0.305 mWP_{TOT}=0.3+0.005=0.305\ \text{mW}⁠。

可见静态功耗只占约 1.6%,工作频率较高时 CMOS 的功耗主要是动态功耗。

例题 5(自编):同一类反相器改在VDD=3.3 VV_{DD}=3.3\ \text{V}下工作,CL=15 pFC_L=15\ \text{pF}⁠,CPD=20 pFC_{PD}=20\ \text{pF}⁠,f=1 MHzf=1\ \text{MHz}⁠,求动态功耗。

解:PD=(15+20)×10−12×106×3.32 W=35×10−6×10.89 W≈0.381 mWP_D=(15+20)\times10^{-12}\times10^6\times3.3^2\ \text{W}=35\times10^{-6}\times10.89\ \text{W}\approx0.381\ \text{mW}⁠。

⚠️ 易错点:

  1. 单位换算:pF 是10−1210^{-12} F,kHz 是10310^3 Hz,MHz 是10610^6 Hz。
  2. CPDC_{PD}只在输入信号上升、下降时间足够快时才有效;输入变化很慢时,两管同时导通的时间长,PTP_T会远大于公式值。
  3. "CMOS 功耗低"指的是静态功耗低;频率很高时 CMOS 也很费电。

6.3 扇出

扇出:一个门的输出端最多能接多少个同类门的输入端。

  • 只看直流:CMOS 输入电流几乎为 0,输出电阻又小,接再多负载门电平也几乎不变,扇出可以非常大;
  • 考虑动态:每个负载门都有约 5 pF 的输入电容,接得越多,总负载电容越大,充放电越慢。频率一定时,电容太大会使输出在规定时间内来不及升到VIH(min)V_{IH(min)}以上或降到VIL(max)V_{IL(max)}以下。

所以 CMOS 的扇出主要受负载电容和工作频率限制:低频(1 MHz 以下)时一般可达 50 以上,频率越高扇出越小。


速记卡

项目 内容
结构 PMOS 在上(源极接VDDV_{DD}⁠),NMOS 在下(源极接地),栅极连一起为输入,漏极连一起为输出
输入低 T1T_1(P)通、T2T_2(N)断,vO≈VDDv_O\approx V_{DD}
输入高 T1T_1断、T2T_2通,vO≈0v_O\approx0
静态功耗 总有一管截止 → 极小
传输特性 AB 段输出高;BC 段两管同时导通、急剧翻转;CD 段输出低
阈值电压 VTH≈VDD/2V_{TH}\approx V_{DD}/2
电流特性 只有 BC 段有电流,vI=VDD/2v_I=V_{DD}/2时最大 → 输入不能长期停在转折区
噪声容限 VNH=VOH(min)−VIH(min)V_{NH}=V_{OH(min)}-V_{IH(min)}⁠,VNL=VIL(max)−VOL(max)V_{NL}=V_{IL(max)}-V_{OL(max)}⁠,约30%VDD30\%V_{DD}
74HC04(4.5 V) VNH=1.25V_{NH}=1.25 V,VNL=1.02V_{NL}=1.02 V
输入特性 输入电流≈0;有保护二极管;多余输入端不能悬空
输出特性 负载电流越大,VOLV_{OL}越高、VOHV_{OH}越低;VDDV_{DD}越高越稳
延迟 tPHL≈tPLHt_{PHL}\approx t_{PLH}⁠,由负载电容充放电决定
动态功耗 PD=(CL+CPD)fVDD2P_D=(C_L+C_{PD})fV_{DD}^2⁠,与VDD2V_{DD}^2成正比
扇出 直流下很大,实际受负载电容和频率限制

自测练习

1.(基础)画出 CMOS 反相器,标出T1T_1⁠、T2T_2的类型以及源极、漏极、栅极各接在哪里。

答案与提示

T1T_1为 P 沟道增强型:源极接VDDV_{DD}⁠,漏极接输出,栅极接输入。T2T_2为 N 沟道增强型:源极接地,漏极接输出,栅极接输入。两栅极相连为vIv_I⁠,两漏极相连为vOv_O⁠。

2.(基础)VDD=5 VV_{DD}=5\ \text{V}⁠,VGS(th)N=1 VV_{GS(th)N}=1\ \text{V}⁠,VGS(th)P=−1 VV_{GS(th)P}=-1\ \text{V}⁠。vI=0v_I=0时求vGS1v_{GS1}⁠、vGS2v_{GS2}并判断两管状态和输出。

答案与提示

vGS1=0−5=−5 Vv_{GS1}=0-5=-5\ \text{V}⁠,比 −1 V 更负,T1T_1导通;vGS2=0<1 Vv_{GS2}=0<1\ \text{V}⁠,T2T_2截止。输出≈5 V\approx5\ \text{V}⁠,高电平。

3.(概念)为什么说 CMOS 反相器的输入端不能长期处于VDD/2V_{DD}/2附近?

答案与提示

VDD/2V_{DD}/2处于电压传输特性的转折区(BC 段),T1T_1⁠、T2T_2同时导通,电流传输特性在此处电流最大,长期如此功耗大、可能损坏器件;同时输出处于高低之间,逻辑不确定。这也是"CMOS 输入端不能悬空"的原因之一。

4.(计算)某 CMOS 门VOH(min)=4.9 VV_{OH(min)}=4.9\ \text{V}⁠,VOL(max)=0.1 VV_{OL(max)}=0.1\ \text{V}⁠,VIH(min)=3.5 VV_{IH(min)}=3.5\ \text{V}⁠,VIL(max)=1.5 VV_{IL(max)}=1.5\ \text{V}⁠。求VNHV_{NH}⁠、VNLV_{NL}⁠。

答案与提示

VNH=4.9−3.5=1.4 VV_{NH}=4.9-3.5=1.4\ \text{V}⁠,VNL=1.5−0.1=1.4 VV_{NL}=1.5-0.1=1.4\ \text{V}⁠。

5.(计算)例题 4 中其他条件不变,把输入频率提高到 1 MHz,总功耗是多少?静态功耗还占多大比例?

答案与提示

PD=120×10−12×106×25 W=3 mWP_D=120\times10^{-12}\times10^6\times25\ \text{W}=3\ \text{mW}⁠,PS=0.005 mWP_S=0.005\ \text{mW}⁠,PTOT=3.005 mWP_{TOT}=3.005\ \text{mW}⁠。静态功耗只占约 0.17%,可忽略。频率提高 10 倍,动态功耗也提高 10 倍。

6.(计算)只考虑负载电容充放电功耗:CL=50 pFC_L=50\ \text{pF}⁠,f=10 MHzf=10\ \text{MHz}⁠,VDD=5 VV_{DD}=5\ \text{V}⁠,PCP_C是多少?若VDDV_{DD}降为 2.5 V 呢?

答案与提示

PC=50×10−12×107×25 W=12.5 mWP_C=50\times10^{-12}\times10^7\times25\ \text{W}=12.5\ \text{mW}⁠。VDDV_{DD}减半,功耗变为1/41/4⁠,即 3.125 mW。

7.(华师风格·简答)简述 CMOS 反相器的工作原理,并说明它静态功耗极低的原因;再说明它的动态功耗由哪两部分组成、与哪些因素有关。

答案与提示

要点:① 结构(PMOS 上、NMOS 下,栅极连为输入、漏极连为输出);② 输入低时 PMOS 通 NMOS 断,输出高;输入高时 PMOS 断 NMOS 通,输出低,Y=A‾Y=\overline A⁠;③ 静态下总有一管截止,截止电阻极高,电源到地几乎无电流,故静态功耗极低;④ 动态功耗 = 负载电容充放电功耗CLfVDD2C_LfV_{DD}^2 + 两管瞬时同时导通的功耗CPDfVDD2C_{PD}fV_{DD}^2⁠,与负载电容、功耗电容、工作频率成正比,与电源电压平方成正比。


下一讲预告

第 06 讲把"一上一下两只管子"扩展成"上并下串""上串下并",得到 CMOS 与非门、或非门,再认识 OD 门、三态门和传输门这几种"特殊输出"的门电路。

👉 点击进入下一讲:第06讲|CMOS 门电路:与非/或非门、OD 门、三态门、传输门

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